Srovnání metod nedestruktivního a destruktivního měření tloušťky elektrolyticky nanášených vrstev

Abstract

Tato diplomová práce se zabývá srovnáním metod nedestruktivního a destruktivního měření tloušťky elektrolyticky nanášených vrstev. V teoretické části byla shrnuta problematika práce spolu s jednotlivými přístroji a metody, které byly během praktické části využity. Pro měření byly využity vzorky poskytnuté firmou ABB s elektrolyticky naneseným povlakem stříbra. Vzorky byly celkem tři, značeny jako A, B a C. K měření byl využit ruční spektrometr a stacionární přístroj a optický mikroskop. Pro destruktivní metodu se vzorky doměřovaly v softwaru. Doba měření pro všechny vzorky byla stanovena na 10 vteřin. Výsledky měření ručního spektrometru ve vybraném bodě L: 7,207 ± 0,116 µm. Pro destruktivní metodu: 7,202 ± 0,202 µm. U stacionárního spektrometru: 6,471 ± 0,142 µm. Destruktivní metoda potvrdila polohu aritmetického průměru ručního spektometru.

This diploma thesis deals with the comparison of methods of non-destructive and destructive measurement of the thickness of electrolytically deposited layers. In the theoretical part, the issues of the work were summarized together with the individual devices and methods that were used during the practical part. Samples provided by ABB with an electrolytically applied silver coating were used for the measurements. There were three samples in total, marked as A, B and C. A hand-held spectrometer and a stationary device and an optical microscope were used for the measurements. For the destructive method, the samples were measured in the software. The measurement time for all samples was set to 10 seconds. Measurement results of the handheld spectrometer at the selected point L: 7.207 ± 0.116 µm. For the destructive method: 7.202 ± 0.202 µm. For a stationary spectrometer: 6.471 ± 0.142 µm. The destructive method confirmed the position of the arithmetic mean of the handheld spectrometer.